EMC測(cè)試（電磁兼容測(cè)試），是評(píng)定電子產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定。EMC電磁兼容測(cè)試的目的是保證產(chǎn)品不能對(duì)所處的電磁環(huán)境造成影響，同時(shí)在特定的電磁環(huán)境中能夠正常可靠的工作。

電磁干擾EMI測(cè)試項(xiàng)目有：輻射發(fā)射測(cè)試、傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試、騷擾功率測(cè)試、電流諧波測(cè)試、電源諧波測(cè)試、閃爍測(cè)試。電磁抗干擾EMS測(cè)試項(xiàng)目有：靜電放電抗擾度、射頻電磁場(chǎng)抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、沖擊（雷擊和浪涌）抗擾度、射頻場(chǎng)感應(yīng)傳導(dǎo)抗擾度、工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)、電壓跌落短時(shí)中斷和電壓漸降抗擾度。接下來(lái)，重點(diǎn)要講解的是浪涌沖擊測(cè)試。

浪涌沖擊測(cè)試適用于電氣和電子設(shè)備在規(guī)定的工作狀態(tài)下工作時(shí)，對(duì)由開(kāi)關(guān)或雷電作用所產(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌（沖擊）電壓的反應(yīng)。該標(biāo)準(zhǔn)不對(duì)絕緣物耐高壓的能力進(jìn)行試驗(yàn)；該標(biāo)準(zhǔn)不考慮直擊雷。

浪涌沖擊測(cè)試內(nèi)容：對(duì)電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)和控制端口在受到浪涌（沖擊）干擾時(shí)的性能進(jìn)行評(píng)定。
浪涌沖擊測(cè)試目的：在遭受到來(lái)自電力線和互連線上高能量浪涌（沖擊）騷擾時(shí)產(chǎn)品的性能。
浪涌沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-5、GB/T 17626.5、IEC 61643-1、ITU-TK.21、GB/T 3482 、GB/T 16927.1。
試驗(yàn)發(fā)生器：
a）信號(hào)發(fā)生器的特性應(yīng)盡可能地模擬開(kāi)關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象；
b）如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中，例如在電源網(wǎng)絡(luò)中（直接耦合），那么信號(hào)發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個(gè)低阻抗源；
c）如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中（間接耦合），那么信號(hào)發(fā)生器能夠模擬一個(gè)高阻抗源。對(duì)于不同場(chǎng)合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口，由于相應(yīng)的浪涌（沖擊）瞬態(tài)波形，各不相同，因此對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)發(fā)生器的參數(shù)也各不相同。

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